BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位分析儀

粒徑范圍

0.3 nm - 15 μm*

樣品量

最小3μL，常規(guī)1ml（可訂制其它容量）*

檢測角度

173°+90°+11.2°（可對應(yīng)高濃度粒度和低濃度粒度）

樣品濃度

≤40%（W/V）*

粒徑算法

Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta范圍

無實際限制

原理

相位分析光散射PALS

電泳遷移率范圍

> ±20 μ.cm/V.s

電導(dǎo)率范圍

0 - ≥270 mS/cm *

Zeta測試粒徑范圍

1 nm – >120 μm *

粒徑范圍

1 μm - 50 μm *

檢測角度

0°（PD檢測器）

樣品量

1 – 3 ml

分子量范圍

342 Da – 2 x 107 Da *

測試能力

均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?、?fù)數(shù)粘度

溫度趨勢

粒度與Zeta電位隨溫度變化趨勢，自動檢測溫度轉(zhuǎn)變點Tm

時間趨勢

粒度與Zeta電位隨時間的變化趨勢

pH值趨勢

粒度與Zeta電位隨pH值的變化趨勢 *

檢測方法

LEDLS

測試能力

體積分數(shù)和數(shù)量濃度

折射率范圍與精度

1.2 - 1.6，液體，精度優(yōu)于0.1%

檢測方法

楔形池樣品折射法（無需示蹤粒子）

檢測角度

0°（CMOS檢測器）

樣品量

380 μL – 1 ml

溫控范圍

-15°C - 120°C

冷凝控制

干燥空氣或者氮氣

激光器

高性能固體激光器，波長671nm（不同波長激光器可選）

相關(guān)器

快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態(tài)線性范圍

檢測器

APD+PD+CMOS

光強控制

0.0001% -100%，自動或手動控制

* 依賴于樣品和選件