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            BeNano 180 納米粒度分析儀

            發(fā)布時(shí)間:2025-12-16 09:04:53瀏覽次數(shù):

            產(chǎn)品介紹
            BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術(shù)用于檢測(cè)納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。它基于動(dòng)態(tài)光散射原理,樣品分散在樣品池中,通過(guò)激光照射到樣品上,光電檢測(cè)器在背向173°角檢測(cè)樣品顆粒布朗運(yùn)動(dòng)造成的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的波動(dòng),再通過(guò)相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得出樣品的自相關(guān)曲線,結(jié)合數(shù)學(xué)方法就可以得到顆粒的擴(kuò)散系數(shù),進(jìn)一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就可以得到樣品的粒度結(jié)果。
            基本性能指標(biāo)
            1、粒徑檢測(cè)


            粒徑范圍

            0.3 nm - 10 μm*

            最小樣品量

            最小40μL(可訂制其它容量)*

            檢測(cè)角度

            173°+11.2°(可對(duì)應(yīng)高濃度粒度和低濃度粒度)

            樣品濃度

            ≤40%(W/V)*

            粒徑算法

            Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

            2、分子量測(cè)試


            分子量范圍

            342 Da – 2 x 107 Da *

            3、微流變測(cè)試


            測(cè)試能力

            均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?、?fù)數(shù)粘度

            4、趨勢(shì)測(cè)試


            溫度趨勢(shì)

            粒度隨溫度變化趨勢(shì),自動(dòng)檢測(cè)溫度轉(zhuǎn)變點(diǎn)Tm

            時(shí)間趨勢(shì)

            粒度隨時(shí)間的變化趨勢(shì)

            5、系統(tǒng)參數(shù)


            溫控范圍

            -15°C - 120°C

            冷凝控制

            干燥空氣或者氮?dú)?/p>

            激光器

            高性能固體激光器,波長(zhǎng)671nm(不同波長(zhǎng)激光器可選)

            相關(guān)器

            快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動(dòng)態(tài)線性范圍

            檢測(cè)器

            APD

            光強(qiáng)控制

            0.0001% -100%,自動(dòng)或手動(dòng)控制

            *依賴于樣品和選件

            檢測(cè)參數(shù)
            ●流體力學(xué)直徑 DH
            ●分布系數(shù) PD.I
            ●擴(kuò)散系數(shù) D
            ●顆粒間相互作用力因子 kD
            ●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
            ●分子量
            ●溶液粘度和折光指數(shù)
            ●溶液流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J
            檢測(cè)技術(shù)
            ●動(dòng)態(tài)光散射
            ●靜態(tài)光散射
            選配件
            ●動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式
            BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離,依次流出。通過(guò)檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào),并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào),得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

            ●0°光電模塊
            0°PD+CMOS模塊,分散液折射率,沉降法粒度和顆粒物濃度測(cè)試。

             地址:上海市浦東新區(qū)曹路鎮(zhèn)金海路2588號(hào)B209 備案號(hào):滬ICP備19046444號(hào)-1